分析試験事例紹介 ：物理分析 ：C-04--走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）による各種材料の破面観察事例--
×５００
×５００
（材質：ＳＵＳ４０３）
（材質：ＳＵＳ４０３）
焼き割れした材料に見られた粒界破壊
引き伸ばされた粒界破壊
×５００
×５００
（材質：Ｓ４５Ｃ）
（材質：ＳＣＭ４２０）
粒界延性破壊
粒界腐食破壊
