機器分析

装置外観

　
サーモフィッシャー
サイエンティフィック社製
NITON XL3t-900S-HeA

原理

　分析試料にＸ線を照射すると、原子中の内殻電子が殻外に放出される。
　外殻電子が内殻に落ち込む時に発生する二次(蛍光)Ｘ線を元素特有のエネルギー毎に分散してそのＸ線強度を電気的に測定する。

用途

　(1)金属の異材判別
　(2)構造物等の材質証明検査
　(3)金属、樹脂等のRoHs対応スクリーニング分析（Pb,Cr,Cd,Hg,Br）
　(4)鉱物、酸化物等の定性分析

装置仕様

測定方法

エネルギー分散型蛍光X線分析法（EDX）

使用モード

金属、環境負荷物質、樹脂、酸化物、土壌

演算手法

FP(ファンダメンタルパラメータ法)

測定視野

φ11mm　（これ以下のサイズは別途ご相談下さい）

寸法

95.5(W)×244(D)×230(H)

1.7kg

Mg〜U

事例：　　
鋼種判別での低Si測定