分析試験設備紹介
表面・構造分析装置：03-09--X線回折装置（XRD）--
装置外観（リガク製 RINT-TTRⅢ）
原理
一定の波長のX線を分析試料に照射すると物質の原子、分子の配列状態によって散乱されるX線に特有の回折パターンが得られる、このパターンの現れ方で物質の構成成分が見分けられる。
用途
①無機物、有機物の同定
②酸化物、窒化物の同定
③金属材料の結晶学的研究
装置仕様
X線発生部
管電圧：20～60kV(Cuの場合）
管電流：10～300mA（Cuの場合）
ターゲット：Co、Cu
ゴニオメータ
2θ測定範囲：0～154°
株式会社大同分析リサーチ 〒457-8545 名古屋市南区大同町2丁目30番地 TEL052-611-9434 FAX052-611-9948
