分析試験設備紹介
表面・構造分析装置:03-09--X線回折装置(XRD)--
装置外観(リガク製 Smart-Lab)
原理
一定の波長のX線を分析試料に照射すると物質の原子、分子の配列状態によって散乱されるX線に特有の回折パターンが得られる、このパターンの現れ方で物質の構成成分が見分けられる。
用途
@無機物、有機物の同定
A酸化物、窒化物の同定
B金属材料の結晶学的研究
装置仕様
X線発生部
管電圧:40kV
管電流:135mA
ターゲット:Co
ゴニオメータ
2θ測定範囲:0〜155°
株式会社大同分析リサーチ 〒457-8545 名古屋市南区大同町2丁目30番地 TEL052-611-9434 FAX052-611-9948