大同分析リサーチ

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 分析試験設備紹介
 表面・構造分析装置:03-09--X線回折装置(XRD)--

RINT-TTR
装置外観(リガク製 RINT-TTRV)
 原理 一定の波長のX線を分析試料に照射すると物質の原子、分子の配列状態によって散乱されるX線に特有の回折パターンが得られる、このパターンの現れ方で物質の構成成分が見分けられる。
 用途 @無機物、有機物の同定
A酸化物、窒化物の同定
B金属材料の結晶学的研究
装置仕様
 X線発生部  管電圧:20〜60kV(Cuの場合)
 管電流:10〜300mA(Cuの場合)
 ターゲット:Co、Cu
 ゴニオメータ  2θ測定範囲:0〜154°
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