分析試験事例紹介：物理分析：C-04--走査型電子顕微鏡（SEM）による各種材料の破面観察事例--
×500（材質：SUS403）
焼き割れした材料に見られた粒界破壊
×500（材質：SUS403）
引き伸ばされた粒界破壊
×500（材質S45C）
粒界延性破壊
×500（SCM420）
粒界腐食破壊
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