分析試験事例紹介:物理分析:C-04--走査型電子顕微鏡(SEM)による各種材料の破面観察事例--
×500(材質:SUS403)
焼き割れした材料に見られた粒界破壊
×500(材質:SUS403)
引き伸ばされた粒界破壊
×500(材質S45C)
粒界延性破壊
×500(SCM420)
粒界腐食破壊
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