大同分析リサーチ

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【物理解析・分析】
 材料の様々な表面や内部状態を電子線やX線などを活用し、解析や分析を行いお客様に情報を提供します。
 さらにお客様の解析要望に合わせ、各種解析の提案および考察にも対応します。
〈対象材料〉
 ・金属,無機物,有機物
〈実施事例〉
 ・材料破損時の破面解析(SEM)
 ・材料の元素マッピング,深さ方向分析(SEM,EPMA,オージェ)
 ・物質構造の定性(]線回折)
 ・結晶方位の観察,マッピング(]線回折,SEM-EBSD)

 ・金属材料の残留応力測定(ポータブル残留応力計)

分析内容 図1 電子線を利用した材料の様々な解析や分析内容

〈保有分析技術及び保有設備一覧〉
設備 型式(メーカー) 導入年 電子銃/管球

付属検出器

SEM JSM-6010PLUS/LA(JEOL) 2015 熱電子型 EDX
JSM-7800F(JEOL) 2014 電界放出型 EDX,EBSD
SU6600(日立) 2009 電界放出型 EDX
S-4700(日立) 1998 電界放出型 EDX
EPMA JXA-8230(JEOL) 2012 熱電子型 EDX,WDX
EPMA-1600(島津) 2008 熱電子型 WDX
JXA-8500F(JEOL) 2004 電界放出型 WDX
オージェ PHI700Xi(アルバック) 2012 電界放出型 オージェ電子
X線回析 RINT-TTRV(リガク) 2005 Co管球 1次元検出器
残留応力 μ-X360n(パルステック) 2014 Cr管球 cosα法
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