分析試験設備紹介
機器分析装置：02-06--エネルギー分散型蛍光X線分析装置--
装置外観（ セイコーインスツルメント社製 SEA5220）
原理
分析試料にＸ線を照射すると、原子中の内殻電子が殻外に放出される。
外殻電子が内殻に落ち込む時に発生する2次（蛍光）X線を、元素特有のエネルギー毎に分散して
そのX線強度を 電気的に測定する。
特徴
①試料形態の制約が少ない
②定性分析が短時間にできる
③定性分析プロファイルが画面に表示可能
対象試料
①調査材料の品種判別
②異材混入時の識別判定
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