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 分析試験設備紹介
 機器分析装置:02-06--エネルギー分散型蛍光X線分析装置--

SEA5220
装置外観( セイコーインスツルメント社製 SEA5220)
 原理 分析試料にX線を照射すると、原子中の内殻電子が殻外に放出される。
外殻電子が内殻に落ち込む時に発生する2次(蛍光)X線を、元素特有のエネルギー毎に分散して
そのX線強度を 電気的に測定する。
 特徴 @試料形態の制約が少ない
A定性分析が短時間にできる
B定性分析プロファイルが画面に表示可能
 対象試料 @調査材料の品種判別
A異材混入時の識別判定
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