分析試験設備紹介
機器分析装置：02-09--携帯型蛍光X線分析装置 NITON--
原理
分析試料にＸ線を照射すると、原子中の内殻電子が殻外に放出される。
外殻電子が内殻に落ち込む時に発生する二次(蛍光)Ｘ線を元素特有のエネルギー毎に分散してそのＸ線強度を電気的に測定する。
用途
①金属の異材判別
②構造物等の材質証明検査
③金属、樹脂等のRoHs対応スクリーニング分析（Pb,Cr,Cd,Hg,Br）
④鉱物、酸化物等の定性分析
装置仕様
装置外観
（サーモフィッシャーサイエンティフィック社製NITON XL3t-900S-HeA）
測定方法
エネルギー分散型蛍光X線分析法(EDX)
使用モード
金属、環境負荷物質、樹脂、酸化物、土壌
演算手法
FP(ファンダメンタルパラメータ法)
測定視野
φ11mm
（これ以下のサイズは別途ご相談下さい）
寸法
95.5(W)×244(D)×230(H)
質量
1.7kg
測定元素
Mg～U
事例紹介
・事例1
鋼種判別での低Si測定
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装置外観