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 分析試験設備紹介
 機器分析装置:02-09--携帯型蛍光X線分析装置 NITON--

 原理 分析試料にX線を照射すると、原子中の内殻電子が殻外に放出される。
外殻電子が内殻に落ち込む時に発生する二次(蛍光)X線を元素特有のエネルギー毎に分散してそのX線強度を電気的に測定する。
 用途 @金属の異材判別
A構造物等の材質証明検査
B金属、樹脂等のRoHs対応スクリーニング分析(Pb,Cr,Cd,Hg,Br)
C鉱物、酸化物等の定性分析
装置仕様 NITON装置外観
(サーモフィッシャーサイエンティフィック社製NITON XL3t-900S-HeA)
 測定方法  エネルギー分散型蛍光X線分析法(EDX)
 使用モード  金属、環境負荷物質、樹脂、酸化物、土壌
 演算手法  FP(ファンダメンタルパラメータ法)
 測定視野  φ11mm
 (これ以下のサイズは別途ご相談下さい)
 寸法  95.5(W)×244(D)×230(H)
 質量  1.7kg
 測定元素  Mg〜U
分析可能範囲
 事例紹介
 ・事例1  鋼種判別での低Si測定
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