大同分析リサーチ

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湿式分析装置

湿式化学分析法
分光光度計
原子吸光光度計(フレーム式フレームレス式
プラズマ発光分光分析装置(ICP) 

機器分析装置

炭素・硫黄分析装置
酸素・窒素分析装置
水素分析装置
波長分散型蛍光X線分析装置
エネルギー分散型蛍光X線分析装置
発光分光分析装置
グロー放電質量分析装置
熱加水分解イオンクロマトグラフ



表面・構造解析装置 電界放出型 走査型電子顕微鏡(FE-SEM)
低加速電圧電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM/EDS/EBSD)
電子プロ−ブマイクロアナライザ(EPMA)
電界放出型 電子プロ−ブマイクロアナライザ(FE-EPMA)
オージェ電子分光分析装置(AES)
透過型電子顕微鏡(TEM)
X線回折装置(XRD)
物性測定装置 示差熱分析計(DTA)
熱天秤
熱膨張測定装置(TMA)
起電力測定装置
高温ヤング率測定装置
直流B-H特性測定装置
交流B-H特性測定装置
振動試料型磁力計 
全自動変態点記録測定装置(フォーマスタ)
高感度作動型示差熱天秤(TG/DTA
低温高感度示差走査熱量測定装置(DSC)



分光分析装置 フーリエ変換(顕微)赤外分光光度計(FT-IR)
顕微ラマン分光分析装置
熱分析装置 高感度作動型示差熱天秤(TG/DTA)
低温高感度示差走査熱量測定装置(DSC)
クロマトグラフ ガスクロマトグラフ質量分析装置(GC/MS)
高速液体クロマトグラフ(HPLC)







機械試験機 引張試験機
高温引張試験機
シャルピー衝撃試験機
硬さ計(ビッカース、マイクロビッカース、ロックウエル、ブリネル)
高温硬さ計(ビッカース)
クリープ試験機
グリーブル試験機
疲労試験機 小野式回転曲げ疲れ試験機
スラスト型転動寿命試験機
ラジアル型転動寿命試験機
ねじり疲れ試験機
ヒートチェック試験機
熱疲労試験機
流動層熱疲労試験装置
腐食試験機 応力腐食割れ試験機
遅れ破壊試験機
酸化試験装置(連続加熱、繰返 加熱・冷却試験)
大型/小型 複合サイクル腐食試験機(CCT試験機);(塩水噴霧→乾燥→湿潤)
塩水噴霧試験機
沸騰腐食試験装置
切削性試験機 マシニングセンター
縦型マシニングセンター
CNC自動盤
その他 加工フォーマスタ
ジョミニー試験装置
亀裂進展速度測定機
ピンオンディスク磨耗試験機



金属材料溶解炉 真空高周波誘導炉(VIF)
エレクトロンビーム溶解炉(EB)
レビキャスト溶解・鋳造装置
ガスアトマイズ装置
遠心噴霧紛製造装置
熱処理試験装置 各種熱処理炉
噴流ガス冷却式真空熱処理炉
プラズマ浸炭・窒化ガス冷却炉
テンションアニ−リング炉

水質分析装置 誘導結合プラズマ質量分析装置(ICP-MS)
ふっ素シアン自動分析装置
分光光度計
偏光ゼーマン原子吸光光度計(フレーム/フレームレス/水素化物発生)
誘導結合プラズマ発光分光分析装置(ICP)
ガスクロマトグラフ質量分析計(GC/MS)
ガスクロマトグラフ(水素炎イオン化検出器/窒素りん検出器/電子捕獲検出器)
イオンクロマトグラフ
高速液体クロマトグラフ(HPLC)
大気測定装置 窒素酸化物・酸素自動測定装置
二酸化硫黄自動測定装置
一酸化炭素・二酸化炭素・酸素自動測定装置
ハイボリウムエアサンプラー
普通形自動試料採取装置
騒音・振動測定装置 普通騒音計
精密騒音計
振動レベル計
オクターブ分析器
1/3オクターブ分析器
作業環境測定装置 デジタル粉じん計
ハイボリウムエアサンプラー
ロウボリウムエアサンプラー
X線回折装置(XRD)
位相差顕微鏡
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