化
学
分
析
湿式分析装置
湿式化学分析法
分光光度計
原子吸光光度計（
フレーム式
／
フレームレス式
）
プラズマ発光分光分析装置（ICP）
機器分析装置
炭素・硫黄分析装置
酸素・窒素分析装置
水素分析装置
波長分散型蛍光Ｘ線分析装置
エネルギー分散型蛍光Ｘ線分析装置
発光分光分析装置
熱加水分解イオンクロマトグラフ
物
理
分
析
表面・構造解析装置
電界放出型 走査型電子顕微鏡（FE-SEM）
低加速電圧電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM/EDS/EBSD)
電子プロ−ブマイクロアナライザ（EPMA）
電界放出型 電子プロ−ブマイクロアナライザ（FE-EPMA）
オージェ電子分光分析装置（AES）
透過型電子顕微鏡（TEM）
Ｘ線回折装置（XRD）
物性測定装置
示差熱分析計（DTA）
熱天秤
熱膨張測定装置（TMA）
高温ヤング率測定装置
直流Ｂ-Ｈ特性測定装置
交流Ｂ-Ｈ特性測定装置
振動試料型磁力計
全自動変態点記録測定装置（フォーマスタ）
高感度作動型示差熱天秤（TG/DTA
）
低温高感度示差走査熱量測定装置（DSC）
有
機
分
析
分光分析装置
フーリエ変換（顕微）赤外分光光度計（FT-IR）
顕微ラマン分光分析装置
熱分析装置
高感度作動型示差熱天秤（TG/DTA）
低温高感度示差走査熱量測定装置（DSC）
クロマトグラフ
ガスクロマトグラフ質量分析装置（GC/MS）
材
料
評
価
試
験
装
置
機械試験機
引張試験機
高温引張試験機
シャルピー衝撃試験機
硬さ計（ビッカース、マイクロビッカース、ロックウエル、ブリネル）
高温硬さ計（ビッカース）
クリープ試験機
グリーブル試験機
疲労試験機
小野式回転曲げ疲れ試験機
スラスト型転動寿命試験機
ラジアル型転動寿命試験機
ヒートチェック試験機
熱疲労試験機
腐食試験機
応力腐食割れ試験機
遅れ破壊試験機
酸化試験装置（連続加熱、繰返 加熱・冷却試験）
大型／小型 複合サイクル腐食試験機（CCT試験機）；(塩水噴霧→乾燥→湿潤)
塩水噴霧試験機
沸騰腐食試験装置
その他
加工フォーマスタ
ジョミニー試験装置
亀裂進展速度測定機
ピンオンディスク磨耗試験機
試
料
作
製
金属材料溶解炉
真空高周波誘導炉（VIF）
エレクトロンビーム溶解炉（EB）
レビキャスト溶解・鋳造装置
ガスアトマイズ装置
遠心噴霧紛製造装置
熱処理試験装置
各種熱処理炉
噴流ガス冷却式真空熱処理炉
プラズマ浸炭・窒化ガス冷却炉
テンションアニ−リング炉
環
境
分
析
水質分析装置
誘導結合プラズマ質量分析装置（ICP-MS）
ふっ素シアン自動分析装置
分光光度計
偏光ゼーマン原子吸光光度計（フレーム/フレームレス/水素化物発生）
誘導結合プラズマ発光分光分析装置（ICP）
ガスクロマトグラフ質量分析計（GC/MS）
ガスクロマトグラフ（水素炎イオン化検出器／窒素りん検出器／電子捕獲検出器）
イオンクロマトグラフ
大気測定装置
窒素酸化物・酸素自動測定装置
二酸化硫黄自動測定装置
一酸化炭素・二酸化炭素・酸素自動測定装置
ハイボリウムエアサンプラー
普通形自動試料採取装置
騒音・振動測定装置
普通騒音計
精密騒音計
振動レベル計
オクターブ分析器
1/3オクターブ分析器
作業環境測定装置
デジタル粉じん計
ハイボリウムエアサンプラー
ロウボリウムエアサンプラー
X線回折装置（XRD）
位相差顕微鏡
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